FSLM-2K70-P02

散射成像

基于FSLM-2K70-P02实现扫描散射介质后传统ME区域以外的具有相对均匀的强度值的焦点。

在ME区域内的散射介质后的WFT&RO的实验结果。（a-c）SLM相位板，用于初始焦点、扫描焦点和RO焦点。（d-f）初始焦点、扫描焦点和RO焦点的观测平面图像。

激光加工

基于FSLM-2K70-P02的相位调制辅助纳秒激光技术进行铬薄膜上的混合周期微结构制造。

随着1000-nmCr薄膜的激光通量的增加，MG-LIPSS在4个不同的调制周期Γ下形成的MG-LIPSS的SEM形貌。